兑水 发表于 2009-11-4 21:22:50

ASTM E 1162-1987 二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据

E1162-87(2001) Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
页: [1]
查看完整版本: ASTM E 1162-1987 二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据