兑水 发表于 2009-11-30 21:46:58

ASTM F 1467-1999 微电子装置的电离辐射效应试验中X射线测试...

F1467-99 Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
页: [1]
查看完整版本: ASTM F 1467-1999 微电子装置的电离辐射效应试验中X射线测试...