今天遇到的1810光谱扫描的怪现象
今天在一个单位检测北京普析公司生产的一台1810型紫外可见分光光度计，在进行光谱扫描的时候，出现了一些情况。扫描的条件设置如下：范围810~400nm,扫描间隔0.5nm，中速，在扫描到600多nm及以后的时候，出现一系列紧密排列的十分高的吸收峰，高的可以到达20多abs，同样的情况发生在扫描范围700~230nm的条件下（其他扫描条件没变）。但是，当把扫描范围设置为400~230nm以及810~400nm进行扫描时（间隔及扫描速度等条件同上，均未变），一切正常。但是在检测该公司生产的紫外可见的时候，从来没有遇到过。
各位有遇到这种现象的吗？讨论讨论？ 我在测截止滤光片吸光度光谱时也碰到类似情况。所谓一系列密集排列十分高的吸收峰，倒不如说就是伪信号，就是异常噪声。因为仪器不能可检测到20Abs的吸光度，目前国际上商业用最顶级的分光也就标称能测量8Abs，出现20多Abs只能是伪信号。当时我估计是吸光度太大时，仪器的光电倍增管会加大放大增益，从而导致噪声急剧增加，为信号可能是劣化的噪声信号；也可能是测量数据超出软件的处理范围，溢出的信号就是伪信号。
至于你的情况有所不同，全当抛砖引玉。
首先不知道你是做基线扫描还是扫描滤光片。其次一般从高波往低波扫，若反过来，数据有可能不正确（软件原因）。看你的描述似乎是分段扫描就不出现这种情况，当全谱扫描就出现是不是？ 本帖最后由 porny 于 2010-4-8 07:06 编辑
是扫描滤光片，分别扫描的镨钕和氧化钬。
前面有点错误，其中第二次扫描镨钕的范围从从810到500nm左右。两次扫描的范围不一样 应该做基线校正在试试 先进行的基线校准。 我碰到过类似情况，扫描氧化钬滤光片的时候，出现许多不正常的吸收峰，密密麻麻，原因是基线没有走，走一遍基线就正常了 在之前，先做的基线校准。从理论上来说，就算不做基线扫描，也只是会产生一些误差，但是，这种误差不应该产生是这样的“伪信号”吧？
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