jasminesz 发表于 2010-8-17 20:15:35

为何量块对零位总有偏差?

发现每次用量块进行比较测量时。在测长机先用量块对好零位后，等检测被检零件后，再用量块去核对时，零位总有偏差小到零点几个μm到一个μm都有，象外径规这种高精度的零件不就会测不准，请问为什么会出现这样的情况？如何解决？

nana 发表于 2010-8-18 08:49:33

可能是测接触时用力过大或对零位的方法有误.

davidow 发表于 2010-8-18 13:08:51

重复性受多种因素有关：仪器本身，仪器的操作，环境变化等。
nana指出的原因是可能的。
另外还要检查一下被检对象是否足够清洁，是否由于测量污染了测帽；
还有就是测帽的固定和安装是否不好，在测量调整时的测力造成测帽位置变化，影响示值的归零。

xhxlplp 发表于 2010-8-18 16:56:14

测量重复性对于不确定度的贡献分量多数情况下是占很大份额的。当你用可以想到的方法去尽可能减少误差来源后，还是发现测量不确定度太大，那就只能考虑更换测量系统，包括更换测量仪器。

正三角 发表于 2010-8-19 19:38:44

一个是测量的重复性，再者就是测量的环境是不是保持温度恒定。

wujiuniu 发表于 2011-9-27 17:38:03

如果是新手，这种情况会出现的比较多，但如果干熟了，这种情况应该很少见了

wang1011 发表于 2011-10-7 19:49:58

测量重复性

规矩湾锦苑 发表于 2011-10-8 00:44:31

回复 1# jasminesz

　　不知你测量前后两次对零位时头座是否动过，如果动过头座，由于JJF1066的4.6条规定“测量座和尾座物镜放大率的不一致性带来的示值误差不大于(1十L/1000) μm”，此时你两次对零位“偏差小到零点几个μm到一个μm都有”是完全正常的。
　　如果你测量前后都没有动过头座，那么根据JJF1066的相关条款规定，示值变动性外尺寸测量不大于0.1μm；内尺寸测量不大于0.5μm；V形支架调整的重复性不大于0.3μm；工作台调整可靠性用球面测帽不大于0.2μm；用08mm平面测帽不大于0.3μm；再加上温度变化的影响，测量力影响，操作上的差异影响，前后两次零位差零点几个μm也是在所难免。
　　解决方法，只要两次对零位的差在测长机示值误差允许范围内，你的被测参数的控制限在测长机示值误差允许值的三倍以上，你的测量结果就是可信的，就不用管它了。如果你的被测参数的控制限在测长机示值误差允许值的三倍以下，就还是换个测量方法吧。

jsyzwgh 发表于 2012-1-30 13:25:26

因为每次测量的不可能是同一点，再加上其它原因
页: [1]
查看完整版本: 为何量块对零位总有偏差?