娅娅 发表于 2011-7-13 14:49:49

求解答

用平晶在白光下（λ=0.6μm）测量一工作面的平面度时，若出现一方位上干涉条纹向平晶与被测面接触点相反方向弯曲，其量为1条，与此相垂直的方位上干涉条纹向接触点方向弯曲，其量为2条，试求该工作面的平面度。

落雪绽菊 发表于 2011-7-13 20:32:15

不是这个专业的飘过。只是我知道这个面凹凸不平，平面度要大于9微米吧。
坐等高手给出正确答案。
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