JJF 1236－2010 半导体管特性图示仪校准规范
本帖最后由 路云 于 2026-3-17 13:16 编辑【标准编号】JJF 1236－2010
【标准名称】半导体管特性图示仪校准规范
【英文名称】Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracer
【发布单位】国家质量监督检验检疫总局
【归口单位】全国无线电计量技术委员会
【发布日期】2010年01月05日
【实施日期】2010年04月05日
【开本页数】880 mm×1230 mm 16开本，26页
【代替标准】首次发布
【起草单位】中国电子技术标准化研究所、北京无线电仪器厂、上海新建电子仪器有限公司
【起 草 人】陈连启、于利红、刘 冲、蔡福明、徐长风
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