myriceme 发表于 2011-10-27 13:32:46

关于《JJF 1064-2010坐标测量机校准规范》中的一些问题？

在《JJF 1064-2010坐标测量机校准规范》中的第二页提到了“二维测头探测误差”和“影像测头探测误差”还有“离散点探测模式”。
请问：
1、“二维测头”的定义，其代表的机器有哪种？
2、“影像测头”的定义，其代表的机器有哪种？
3、“离散点探测模式”如何操作？

谢谢。

davidow 发表于 2012-11-8 10:48:56

影像测头是二维测头的一种特殊形式。二维测头包括影像测头，光纤测头等
配备影像测头的坐标测量机太多了。有机会上展览会看看，至少10家以上
离散点探测模式，需要用测量窗口逐点采样，不能用仪器包含整个圆的测量模式。

星空漫步 发表于 2012-11-8 14:45:03

影像测头是二维测头的一种特殊形式。二维测头包括影像测头，光纤测头等
配备影像测头的坐标测量机太多了。 ...
davidow 发表于 2012-11-8 10:48 http://www.gfjl.org/images/common/back.gif

按照楼上对离散点探测模式的解释，我感觉所谓离散点探测模式这一称谓，或者说词语定义有些词不达意。
该探测模式的功能究竟是什么，我希望有机会看看规范，自己再了解一下。

星空漫步 发表于 2012-11-8 14:57:00

JJF1064本是CMM的内容，非得拉扯上影像测量，个人以为有些牵强附会。
当然我们只是跟着老外在走，JJF1064也是参照ISO10360来的，搞ISO10360那帮人就想大小通吃，也不怕撑着，让人有点烦。

我个人以为CMM和影像量仪根本就不是一类产品，所以能不扯在一起，还是别扯到一起的为好。

当然CMM装上影像测头，也能进行简单的影像测量，但只是非常简单的影像测量，其影像测量功能照真正的影像量仪比，可以说天差地远！这就是我不赞成把两者捏固到一起的理由。

lcatei 发表于 2012-11-18 09:43:09

从坐标测量原理来讲，二维和三维没有区别，有区别的仅在点的采集上，所以说在评定方面可以说是一样的，如要分，那也是在探头方面比较合理

darksun 发表于 2012-11-23 01:10:34

真正的影像量仪指的是哪种设备？

moreface 发表于 2014-9-30 21:32:56


真正的影像量仪指的是哪种设备？

同问！！！！

星空漫步 发表于 2014-10-1 08:05:02

moreface 发表于 2014-9-30 21:32
同问！！！！

没有具体调查过是否有哪里出过有关定义，从产品设计来讲两者的结构和测量要求都不同：
三坐标测量机的测量对象主要是一些立体件，有空间尺寸测量要求，探测手段主要是接触式测头，工作台承载能力大，不带底部透射照明，没有专门的光路设计；
影像测量仪的测量对象主要是一些小零件、电子元器件，也包括各类薄壁件，探测手段主要是光学物镜+CCD，有专门的光学设计，因为底部透射照明是常规配置，所以工作台承载能力不如三坐标测量机。

影像测量仪主要是二维尺寸测量，不一定要求保证空间精度，三坐标测量机是一定要求保证空间测量精度的。
在三坐标测量机上，加装一个外边买来的光学影像测头，就叫影像测量仪了？不妥。
有些不保证空间测量精度的影像测量仪，加装个接触式测头，就叫三坐标测量机了？也不妥。

比较纯正的、传统的影像测量仪代表：三丰QV系列产品，尼康NEXIV系列产品，OGP SmartScope系列产品。
现在国产的也有不少，如天准、智泰、怡信等。

随着产品技术的不断更新与融合，纯影像测量的产品逐渐变少，多探测手段的复合式坐标测量机正在增加，典型代表是德国的Werth，除影像测头外，还可以搭载其它多种多样的测头，有兴趣的量又可以自己上网查看。
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