RoHS分析用标准样自研制初探
作者：刘晓丽 赵敏 张智勇 李俊杰单位：工业和信息化部电子第五研究所；广东南方础业股份有限公司
简介：随着欧盟RoHS指令的实施，电子厂需严格控制产品中隔(Cd) 、汞(Hg) 、多溴(Br) 联苯、多溴二苯醚、六价铬(Cr) 、铅(Pb) 等有害物质的含量，其中铅、汞、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚的最大允许含量为0.1% ，隔为0.01%。 X射线荧光光谱法由于具有分析准确度高、速度快、分析元素的浓度范围广、样品前处理简单以及无损检测等优点而被广泛应用于RoHS分析中。然而，在分析测试过程中，由于受基体效应、物理参数的准确度、仪器稳定性等因素的影响， X射线荧光光谱仪(XRF) 元标样定量分析方法(如基本参数法)的准确度还不够理想，必须使用以标准样品为基础的相对比较法才能获得准确、可靠的分析数据。研制一套与待测样品具有相近化学组成和物理结构，在一定尺度范围内元素分布均匀且具有一定浓度梯度分布的标准样品，可以保证分析数据的准确性和可靠性。
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