《半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范》征求意...
本规范按照JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》编制，JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》 共同构成支撑校准规范修订工作的基础性系列规范。与JJG 725-1991《晶体管直流和低频参数测试仪检定规程》相比，除编辑性修改外，本规范主要修订内容有：
——修改规范名称为半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范。
——增加了引言部分。
——增加了有关名词术语（见3）。
——修订了计量特性（见5）。
——修订了校准用标准器及其他设备（见6.2）。
——重新编制了校准项目及校准方法（见7）。
——去掉了附录1各种型号被检仪器的主要技术指标。
——修改了校准证书内容（见附录A）。
——修改了原始记录格式（见附录B）。
——补充了测量不确定度评定的示例（见附录C）。
历次版本情况：
本规范是对JJG 725-1991的修订。
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