JJF(皖)259－2026 半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范
【标准编号】JJF(皖)259－2026【标准名称】半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范
【英文名称】Calibration Specification for Integrated PCT Aging Test Systems for Semiconductor Devices
【发布单位】安徽省市场监督管理局
【归口单位】安徽省热工计量技术委员会
【发布日期】2026年01月09日
【实施日期】2026年03月01日
【开本页数】880 mm×1230 mm 16开本，23页
【代替标准】首次发布
【起草单位】池州市计量测试所、宣城市标准计量所、安庆市计量测试所
【起 草 人】吴蔡祥、马克华、左罗、殷锦汉、蒋立新
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