GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
【 标准编号 】 GJB 128A-1997 <BR>【 标准名称 】 半导体分立器件试验方法<BR>【 英文名称 】 Test methods for semicondctor discrete devices<BR>【 发布单位 】 电子工业部<BR>【 批准单位 】 国防科学技术工业委员会<BR>【 发布日期 】 1997-05-23 <BR>【 实施日期 】 1997-12-01 <BR>【 开本页数 】 254P <BR>【 替代标准 】 GJB 128-1986 <BR>【 起草单位 】 中国电子技术标准化研究所<BR>【 起 草 人 】 王长福等
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