SJ/T 10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
【 标准编号 】 SJ/T 10741-2000<BR>【 标准名称 】 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 <BR>【 英文名称 】 Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国信息产业部<BR>【 批准单位 】 中华人民共和国信息产业部<BR>【 发布日期 】 2000-12-28<BR>【 实施日期 】 2001-3-1<BR>【 开本页数 】 37P<BR>【 替代标准 】 GB 3834-83<BR>【 引用标准 】 GB/T 17574-98; SJ/T 10734-96<BR>【 起草单位 】 中国电子技术标准化研究所<BR>【 起 草 人 】 李燕荣; 孙人杰<BR>
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