SJ/T 11212-1999石英晶体元件参数的测量 第6部分
【 标准编号 】 SJ/T 11212-1999<BR>【 标准名称 】 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 <BR>【 英文名称 】 Measurement of quartz crystal unit paramenters-Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD)<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国信息产业部<BR>【 发布日期 】 1999-8-26<BR>【 实施日期 】 1999-12-1<BR>【 开本页数 】 16P<BR>【 引用标准 】 SJ/Z 9154; SJ/Z 9154.1-87<BR>【 采用关系 】 IDT IEC 444-6:1995<BR>【 起草单位 】 电子工业部标准化研究所<BR>【 起 草 人 】 邓鹤松; 章怡; 宋佩钰; 边一林<BR>
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