SJ 20400-94低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法
【 标准编号 】 SJ 20400-94<BR>【 标准名称 】 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法 <BR>【 英文名称 】 Methods of near-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 批准单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 发布日期 】 1994-9-30<BR>【 实施日期 】 1994-12-1<BR>【 开本页数 】 18P<BR>【 引用标准 】 SJ 20348-93; SJ 20347-93<BR>【 起草单位 】 电子工业部第十四研究所<BR>【 起 草 人 】 李俊沛; 陆祥林; 王宝艾; 张晓燕<BR>
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