woshi_tjy 发表于 2008-7-25 19:28:38

SJ/T 10482-94半导体中深能级的瞬态电容测试方法

【 标准编号 】 SJ/T 10482-94<BR>【 标准名称 】 半导体中深能级的瞬态电容测试方法&nbsp;&nbsp;<BR>【 英文名称 】 Test method for characterizing semiconductor deep levels by transient capacitance techniques<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 批准单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 发布日期 】 1994-4-11<BR>【 实施日期 】 1994-10-1<BR>【 开本页数 】 6P<BR>【 采用关系 】 ASTM F978-90<BR>【 起草单位 】 电子工业部第四十六研究所<BR>【 起 草 人 】 刘春香; 张若愚; 段曙光<BR>
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