SJ/T 10457-93俄歇电子能谱术深度剖析标准导则
【 标准编号 】 SJ/T 10457-93<BR>【 标准名称 】 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则 <BR>【 英文名称 】 Standard guide for depth profiling in auger electron spectroscopy<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 批准单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 发布日期 】 1993-12-17<BR>【 实施日期 】 1994-6-1<BR>【 开本页数 】 5P<BR>【 采用关系 】 EQV ASTM E1127-86<BR>【 起草单位 】 天津电子材料研究所<BR>【 起 草 人 】 李岩松; 刘咏梅; 罗兴华; 严如岳; 华庆恒<BR>
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