SJ/T 10167-91电子设备密封结构试验方法
【 标准编号 】 SJ/T 10167-91<BR>【 标准名称 】 电子设备密封结构试验方法 <BR>【 英文名称 】 Test methods of densification structure for electronic equipments<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国机械电子工业部<BR>【 批准单位 】 中华人民共和国机械电子工业部<BR>【 发布日期 】 1991-4-2<BR>【 实施日期 】 1991-7-1<BR>【 开本页数 】 15P<BR>【 引用标准 】 SJ/T 10166<BR>【 起草单位 】 国营第786厂; 机械电子工业部电子标准化研究所<BR>【 起 草 人 】 师华钦; 仇金陵; 孙树菊; 张继瑞; 冯长友<BR>
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