woshi_tjy 发表于 2008-8-14 19:33:46

SJ 2215.1-82半导体光耦合器测试方法总则

【 标准编号 】 SJ 2215.1-82<BR>【 标准名称 】 半导体光耦合器测试方法总则&nbsp;&nbsp;<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 批准单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 发布日期 】 1982-11-30<BR>【 实施日期 】 1983-7-1<BR>【 开本页数 】 2P<BR>【 引用标准 】 @<BR><BR>
页: [1]
查看完整版本: SJ 2215.1-82半导体光耦合器测试方法总则