woshi_tjy 发表于 2008-8-14 20:32:33

SJ 2214.5-82半导体光敏二极管结电容的测试方法

【 标准编号 】 SJ 2214.5-82<BR>【 标准名称 】 半导体光敏二极管结电容的测试方法&nbsp;&nbsp;<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 发布日期 】 1982-11-30<BR>【 实施日期 】 1983-7-1<BR>【 开本页数 】 1P<BR>【 引用标准 】 @<BR>
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