GB/T 11685-2003半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪
【 标准编号 】 GB/T 11685-2003<BR>【 标准名称 】 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 <BR>【 英文名称 】 Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers<BR>【 发布单位 】 国家质量监督检验检疫总局<BR>【 发布日期 】 2003-7-7<BR>【 实施日期 】 2004-1-1<BR>【 开本页数 】 26P<BR>【 替代标准 】 GB/T 8992-1988; GB/T 11685-1989<BR>【 引用标准 】 GB/T 4079-1994; GB/T 4960.6-1996<BR>【 起草单位 】 核工业标准化研究所<BR>【 起 草 人 】 熊正隆<BR>
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