GB/T 18210-2000晶体硅光伏（PV）方阵I-V特性的现场测量
【 标准编号 】 GB/T 18210-2000<BR>【 标准名称 】 晶体硅光伏（PV）方阵I-V特性的现场测量 <BR>【 英文名称 】 Crystalline silicon photovoltaic（PV）array-On-site measurement of I-V characteristics<BR>【 发布单位 】 国家质量技术监督局<BR>【 批准单位 】 国家质量技术监督局<BR>【 发布日期 】 2000-10-17<BR>【 实施日期 】 2001-5-1<BR>【 开本页数 】 10P<BR>【 引用标准 】 GB/T 6495.1-1996; GB/T 6495.2-1996; GB/T 6495.3-1996; GB/T 6495.4-1996; IEC 60904-2:1989; IEC 60904-6:1994; IEC 60904-6:1994; IECQ QC 001002:1986; IECQ QC 001002:1986<BR>【 采用关系 】 IDT IEC 61829:1995<BR>【 起草单位 】 信息产业部电子第十八研究所; 秦皇岛市华美光电设备总公司<BR>【 起 草 人 】 由志德; 李涛勇<BR>
页:
[1]