GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系……
【 标准编号 】 GB/T 14863-93<BR>【 标准名称 】 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 <BR>【 英文名称 】 Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes<BR>【 发布单位 】 国家技术监督局<BR>【 批准单位 】 国家技术监督局<BR>【 发布日期 】 1993-12-30<BR>【 实施日期 】 1994-10-1<BR>【 所属标准 】 GB<BR>【 开本页数 】 12P<BR>【 引用标准 】 SJ 1550<BR>【 起草单位 】 机械电子工业部46所; 机械电子工业部4所<BR>【 起 草 人 】 孙毅之; 张若愚; 谢重木; 韩艳芬<BR>
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