GB/T 1555-1997半导体单晶晶向测定方法
【 标准编号 】 GB/T 1555-1997<BR>【 标准名称 】 半导体单晶晶向测定方法 <BR>【 英文名称 】 Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal<BR>【 发布单位 】 SBTS<BR>【 批准单位 】 国家技术监督局<BR>【 发布日期 】 1997-12-22<BR>【 实施日期 】 1998-8-1<BR>【 开本页数 】 6P<BR>【 替代标准 】 GB 1555-1979; GB 1556-1979; GB 5254-1985; GB 5255-1985; GB 8759-1988<BR>【 采用关系 】 ASTM F26-87a,EQV<BR>【 起草单位 】 峨嵋半导体材料厂<BR>
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