GB/T 1553-1997硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
【 标准编号 】 GB/T 1553-1997<BR>【 标准名称 】 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 <BR>【 英文名称 】 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay<BR>【 发布单位 】 SBTS<BR>【 批准单位 】 国家技术监督局<BR>【 发布日期 】 1997-6-3<BR>【 实施日期 】 1997-12-1<BR>【 开本页数 】 15P<BR>【 替代标准 】 GB 1553-1979; GB 5257-1985<BR>【 引用标准 】 GB/T 1550-97; GB/T 1551-95 etc.<BR>【 采用关系 】 ASTM F28-1990,EQV<BR>【 起草单位 】 峨嵋半导体材料厂<BR><BR>
页:
[1]