GB/T 4937-1995半导体器件机械和气候试验方法
【 标准编号 】 GB/T 4937-1995<BR>【 标准名称 】 半导体器件机械和气候试验方法 <BR>【 英文名称 】 Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices<BR>【 发布单位 】 国家技术监督局<BR>【 批准单位 】 国家技术监督局<BR>【 发布日期 】 1995-12-22<BR>【 实施日期 】 1996-8-1<BR>【 开本页数 】 34P<BR>【 替代标准 】 GB 4937-86<BR>【 引用标准 】 GB 2421-89; GB 2423; GB 2424; GB 5169.5-82; IEC 747; IEC 748<BR>【 采用关系 】 IEC 749-1984,IDT<BR>【 起草单位 】 上海市电子仪表标准计量测试所; 中国电子技术标准化研究所<BR>【 起 草 人 】 倪月琴; 王长福<BR>
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