GB/T 14031-92 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
【 标准编号 】 GB/T 14031-92<BR>【 标准名称 】 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 <BR>【 英文名称 】 General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits<BR>【 发布单位 】 国家技术监督局<BR>【 批准单位 】 国家技术监督局<BR>【 发布日期 】 1992-12-18<BR>【 实施日期 】 1993-8-1<BR>【 开本页数 】 16P<BR>【 起草单位 】 上海元件五厂<BR>【 起 草 人 】 崔忠勤; 张家昌<BR>
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