GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法
【 标准编号 】 GB/T 14145-1993<BR>【 标准名称 】 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法 <BR>【 英文名称 】 Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-coutrast microscopy<BR>【 发布单位 】 SBTS<BR>【 批准单位 】 国家技术监督局<BR>【 发布日期 】 1993-2-6<BR>【 实施日期 】 1993-10-1<BR>【 所属标准 】 GB<BR>【 开本页数 】 3P<BR>【 采用关系 】 ASTM F522-1984,REF<BR>
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