对于用刀口尺和微米量块检定尺寸较小的平板,其平面度算法比较简单。但是对于大尺寸平板需要用电子水平仪或者自准直仪来检定,其数据处理是比较繁琐,也没有更好的手算方法,通常只能借助程序进行数据处理。对于小平板,按照米字形测量,其算法如下:
a1 a2 a3
b1 b2 b3
c1 c2 c3
测量a1b2c3对角线,在a1、c3位置架设1mm的等高量块,在b2位置塞入恰好能塞入的量块(原理同塞尺),如恰好塞入1.003mm的量块,说明受检点处凹下0.003mm,同理测量米字形的八条线,记下数据。如得到一组测量数据(单位:μm):
a1,b2,c3=0,-3,0
c1,b2,a3=0,-3,0
a1,a2,a3=0,-1,0
b1,b2,b3=0,-1,0
c1,c2,c3=0,-1,0
a1,b1,c1=0,-2,0
a2,b2,c2=0,-2,0
a3,b3,c3=0,-1,0
得到米字形数据表为:
0 -1 0
-2 -3 -2
0 -1 0
平板的平面度为3μm
以上不过这是特例,很多平板的对角线所测得的数据是无法正好重合的,需要以一根对角线为基准,另外七条线采用数据叠加的方法运算,但道理是相通的,不再赘述。
[ 本帖最后由 疯蛙 于 2007-9-5 22:09 编辑 ] |