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ASTM F 1711-1996 使用四点探测法测定专业平板显示器用薄膜....

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兑水 发表于 2009-12-2 16:59:33 | 显示全部楼层 |阅读模式
F1711-96(2002) Standard Practice for Measuring Sheet Resistance of Thin Film Conductors for Flat Panel Display Manufacturing Using a Four-Point Probe

ASTM F 1711-1996.pdf

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