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ASTM F 1893-1998 半导体器件电离剂量率烧断测量导则

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兑水 发表于 2009-12-3 21:27:20 | 显示全部楼层 |阅读模式
F1893-98(2003) Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

ASTM F 1893-1998.pdf

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