请问：不同波长，杂散光不同是什么原因造成的？

本想之所以会这样是因为：为消除光栅的次级重叠现象，在卤钨灯与聚光镜间加有滤光片组。如有用四块滤光片组成，对于不同给定的工作波长，使用不同的滤光片消除次级重叠现象。而分光光度计杂散光的产生，除制造不良外，光学元件表面的灰尘和霉变是产生杂散光较主要原因。因为不同波长使用的消除次级重叠现象滤光片不同，当滤光片组中的各滤光片表面清洁程度不同，完全有可能在不同波长情况下，产生的杂散光不同。
    但是蔡老师说：对于入射狭缝之前消除次级重叠现象滤光片上的问题，对杂散光的贡献很小。听老师这样一说，我恍然大悟。是哦，因为在入射狭缝之前的光本来就是复合光，滤光片表面清洁程度应该只影响能量的大小，而不会成为杂散光的原因。而且从棱镜型和光栅型分光原理上可以看出：


    不同波长时，只是棱镜或光栅的角度不同，其余没有什么变化，也就是说：按理杂散光并不会因为波长不同而不同。但是，为什么样会出现上述对于光栅型可见分光光度计，在360nm处检定杂散光，经检定此处杂散光为0.0%；但是在420nm处检定发现：此处的杂散光竟然达到12.0%之大，远超过了现行检定规程，规定的杂散光计量性能的合格要求的情况？这可是我实际工作中，多次遇到的不同波长杂散光不同的实例之一哦！这也是我当时会思考该问题，并写该文的原因。我当时因为没想到该问题，而没能向蔡老师请教其原因，现向各位版友讨教！ 紫外、可见分光光度计杂散光检定的建议(修改稿).rar (72.43 KB, 下载次数: 10)

2011-10-18 08:27 上传

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目前的规程不刻意区分光栅还是棱镜分光，只是针对紫外或可见波长进行检定。按照规程起草人的意思，对于光栅仪器，360nm和420nm都需要检杂散光，对于紫外仪器，220、360、420都要检杂散光。

经过认真细致的思考,使我终于认识到:虽然消除次级重叠现象滤光片上的灰尘和霉点不是杂散光的诱因。但是，不管是棱镜还是光栅，其同一制造不良状态，在不同角度时（即分光光度计给出不同波长时）造成的杂散光，完全有可能不同；就是同一的表面积尘和有霉点的状态，在棱镜或光栅处不同的角度时，造成的杂散光，也完全有可能不同；特别是由于单色器内光的非人为的反射和散射更是有可能由于棱镜或光栅处不同的角度时，造成的杂散光不同。总之，分光光度计不同波长时，杂散光完全有可能是不同。所以对于可分光光度计仅在360nm或420nm检定杂散光；对于紫外（含可见）分光光度计仅在220nm和360nm（或420nm）检定杂散光是不够的，是很不充分的！

目前的规程不刻意区分光栅还是棱镜分光，只是针对紫外或可见波长进行检定。按照规程起草人的意思，对于光栅仪器，360nm和420nm都需要检杂散光，对于紫外仪器，220、360、420都要检杂散光。

vandyke 发表于 2011-10-18 19:44

我并不是说杂散光的检定要区分光栅还是棱镜的分光光度计，只是在讨论杂散光的产生时，由于光栅型和棱镜型分光光度计结构很不同，所以要分别提到。其实我原文的本意主要是对于可分光光度计仅在360nm或420nm检定杂散光；对于紫外（含可见）分光光度计仅在220nm和360nm（或420nm）检定杂散光是不够的，是很不充分的！我一直在这样做，希望对该问题感兴趣的同行也这样做：对于光栅的分光光度计不仅在360nm检定杂散光，而且在420nm处也检定杂散光，你就能得出同样的结论。对于棱镜的分光光度计，我并不是不想这样去验证，只是因为棱镜的分光光度计在360nm没有光，而我们又没有波长更高于420nm的截止滤光片。