测微类大量程量具检定

请教一下，300mm以上的外径千分尺，检定时各受检点怎么分配啊。比如说（300-400）（400-500）的。

有老师在吗，帮一下吧

　　千分尺检定规程6.3.14条规定，对于测量上限大于150mm的千分尺，可以只检微分头的示值误差，用专用量块借助于图12所示专用检具，按0～25mm的千分尺受检点检定。

明白了，谢谢

我们现在的检定方法是，借用专用量块夹，把尺寸平均检定五个点，取最大的示值误差。我们正在长度建标，如果专家来审核的话，我们的方法可行吗？

计量员sdd 发表于 2015-7-1 16:44
我们现在的检定方法是，借用专用量块夹，把尺寸平均检定五个点，取最大的示值误差。我们正在长度建标，如果 ...

　　你们的想法理论上可以，实际上不行。
　　因为千分尺测量尺寸过大时，借用专用量块夹组合的量块尺寸也就较大，千分尺的工作面较小，工作面与量块的工作面紧密接触以保证千分尺测量轴线垂直于量块工作面的操作将比较困难，微小的不垂直将会产生较大的长度方向尺寸（示值误差）的测量误差，而千分尺的示值允差并不大，测量误差将影响检定结果。
　　之所以卡尺可以这样检定，是因为卡尺的示值误差允许值比千分尺示值误差允许值大得多，产生的测量误差相比卡尺的示值允差可以忽略。

明白了  谢谢
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