检定卡尺的刻线宽度的问题

检定规程上说检定刻线宽度选用读数显微镜的话最大允许误差的绝对值MPEV:10μm，那么选择的标准器的示值误差是不是不能超过20/3μm？如果标准器选择测量显微镜的话，考虑市面上上光的15JF数显测量显微镜，参数指标给的示值误差是5+L/15μm，L是被测件的长度（mm）。我有2个问题想向各位前辈请教：
（1）这个L是指被测件整个的长度还是仅仅是在物镜视野范围之内的长度，如果是被测件整个的长度那么示值误差不是远远大于20/3mm了吗？
（2）这里我选的是读数显微镜的MPEV，实际上工具显微镜的MPEV是3μm，但是如果用测量显微镜检定，那么选哪一个MPEV啊？也就是问测量显微镜与这两种仪器的区别和联系。

　　我认为你的概念太模糊了。你一定要搞清楚你的被检对象是什么，你用的测量设备是什么。也就是说一定要搞清楚你要测量什么，用了什么工具进行测量。
　　你的标题是“检定卡尺的刻线宽度的问题”，因此你的被检对象是卡尺刻线宽度，JJG30-2012规定使用的工具（测量设备）按检定规程规定是工具显微镜或者读数显微镜。对被检对象分度值0.02mm的卡尺刻线宽度为(0.08～0.18)mm，同一件卡尺的刻线宽度差（被测对象的控制限T）不超过0.02mm。使用的测量设备最差的是读数显微镜，其MPEV＝10μm＝0.010mm，所用测量设备的MPEV约等于测量方法的不确定度U。U/T＝0.010÷0.10＝1/10＜1/6，因此读数显微镜可用来检定卡尺刻线宽度，工具显微镜的MPEV＝3μm＜10μm就更没问题了。
　　可能有人会问为什么我用了1/6没有用1/3？1/3原则指的是不大于1/3，一般取1/3～1/10，测量风险越大越趋于选择1/10。检定/校准活动的风险远大于一般产品的检验，因此应选择1/6，但控制限T（几何量计量叫公差）是最大允差绝对值的MPEV的2倍，所以JJF1094也就取U/T≤1/6，并进一步改写成U/MPEV≤1/３。
　　如果你要检读数显微镜而不是检卡尺，那就应该查JJG571。分度值0.01mm的读数显微镜示值允差MPEV＝10μm＝0.01mm，控制限T＝0.02mm。规程规定检定读数显微镜示值误差使用的测量设备是专用玻璃刻度尺，分度值为0.1mm的专用玻璃刻度尺是最差的，其测量不确定度U＝0.5μm＝0.0005mm。U/T＝0.0005/0.02=0.025＜1/6（用MPEV计算是U/MPEV＝0.0005/0.01＝0.05＜1/3）。工具显微镜的MPEV是3μm，你“用测量显微镜检定”，不知你说的测量显微镜是不是MPEV为10μm的读数显微镜，如果是，就相当于用钢卷尺检定游标卡尺那么荒谬了。
　　要记住1/3原则指的是被检参数测得值的不确定度U除以所用测量工具的控制限T是不大于1/6，或被检参数测得值的不确定度U除以所用测量工具的MPEV是不大于1/3，也可以近似地看作为被检仪器的MPEV除以为检定它而使用的测量设备的MPEV不大于1/3。

哪里可以买到符合规程上粗糙度量块啊？

新手试着解答，请楼下评论：
    （1）因为你要测刻线的宽度，那L肯定就是刻线的宽度值了。不是被测件整个的长度或物镜视野范围之内的长度。
    （2）这是三种不同的显微镜。 之间没关系

wujiuniu 发表于 2016-3-29 08:31
新手试着解答，请楼下评论：
    （1）因为你要测刻线的宽度，那L肯定就是刻线的宽度值了。不是被测件整个 ...

我开始也是你这样认为L是刻线宽度的，后来了解到L实际上是行程范围，对于测量显微镜就是在X轴和Y轴的范围之间

Thaini 发表于 2016-4-1 13:23
我开始也是你这样认为L是刻线宽度的，后来了解到L实际上是行程范围，对于测量显微镜就是在X轴和Y轴的范围 ...

是吗  学习了

Thaini 发表于 2016-4-1 13:23
我开始也是你这样认为L是刻线宽度的，后来了解到L实际上是行程范围，对于测量显微镜就是在X轴和Y轴的范围 ...

我理解的是L是测量的范围，你所表示的是仪器全量程的误差，5+L/15μm是误差的线性表达方式，不矛盾啊，你要测的是刻线宽度，比如0.5mm，这里的L就是0.5mm，请楼下指正！