测量计量的公式推导——兼论不确定度论的错误（1）

吴下阿蒙 发表于 2016-12-13 12:04
=。=新手不懂就问嘛，之前我一直以为分辨力是必须要引入的呢。这不是越辩越清晰了嘛：）我之前一直纠结分 ...

        我认为在自动化测试仍然要考虑分辨力的影响，但是这个分辨力由仪器内部抓取的数据位数决定，跟面板显示无关。分辨力和重复性要取其中的大者，小的那个不用参与合成，但不是说事先不用考虑了，不然怎么比较两者的大小呢？
       如果是还要人工回读的话，那这个分辨力就是面板上这个了，一般来说，准确度越高的仪器其显示的分辨力相应会较小才对，不然准确度再高也体现不出来，除非外加一个测量仪表。

吴下阿蒙 发表于 2016-12-13 10:36
好的，现在在设置电压上我们意见是一致的，即和分辨力无关。那么最终结果，和上次讨论的规矩湾先生结果， ...

那么，引申后面的呢？即自动化后，回读值误差B=U1-U2（U1为标准表测试值，U2为电源回读，即表显），但问题是，此处的U2并非读取至表显，而是来自电源内部抓取。 您应该知道，一般数显表假设表显为10.01,实际内部的值位数是比这多的，比如为10.01234，这时候需要用到分辨力嘛？？是否要将此处的内部值修约至电源表显值的位数，然后引入分辨力呢？？？

首先，你的公式B=U1-U2（U1为标准表测试值，U2为电源回读，即表显），不是回读误差，是偏差，因为误差是相对于相对真值的，其次，如果U2来自电源内部抓取，那同表显是不同的

如果你给出测量结果回读误差注明是抓取电源内部数据，就考虑抓取值分辨力就行了，如果给出测量结果回读误差没有说明，正常人理解一般意义上是表显示的回读电压误差，这时就要考虑显示表的分辨力

考虑显示表的分辨力也要分情况，你需要确定内部抓取数据比如10.01001至10.01999之间表一律显示10.01还内部抓取数据大于10.015时表就显示为10.02，即内部测量数据有没有四舍五入后再送显示，若没四舍五入处理，考虑分辨力是显示表的1个字，若有，就要考虑表显示分辨力1/2个字

总之，不了解计量器具原理，很容易出现评定的不确定度似是而非

（五）测定系统误差时的误差范围
5.1 测定系统误差时的操作
       测定系统误差的方法是用被校仪器测量计量标准。操作同于检定的操作A。测定系统误差，包括从测量仪器误差中分离系统误差与随机误差的要求，因此，比前述计量误差多出测量平均值的误差范围3σ平及仪器的分辨力误差。
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5.2 测定系统误差时的误差范围
       系统误差的测得值为：
                     β视= M平-B±分辨力误差                                               （5.1）
       真系统误差（系统误差定义值，以标准的真值为参考）
                     β真= EM-Z                                                                   （5.2）
       则测定系统误差时的误差为
                    rβ = β视 -β真   
                        = [M平-B]-[EM-Z] ±分辨力误差
                        =[M平-EM]-[ B-Z] ±分辨力误差
                        =±3σ平± R标 ±分辨力误差                                         （5.3）
       测定系统误差时的误差范围，由被校仪器示值的平均值的标准偏差、被校仪器分辨力误差和计量标准的误差合成。可能较大的误差是随机误差，仅有一项R标视为系统误差，按“方和根法”合成。  
       测定系统误差时的误差范围为
                     Rβ =√[(3σ平)2 + (R标)2+(分辨力误差)2]                         （5.4）
       换成不确定度的语言，确定系统误差的不确定度为
                     Uβ =√[(3σ平)2 + (R标)2+(分辨力误差)2]
                 = Rβ
       现行不确定度论的校准不确定度U95，其包含的内容与Rβ包含的内容相同，就是Rβ，这里记为Uβ，是确定系统误差时的误差范围。
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【对不确定度论质疑5】  
       不确定度评定的唯一正确的地方，是测定系统误差的误差范围的表达。但可惜，好像是巧合。因为宣贯者说：Rβ是上级计量部门的能力；其实，Rβ的一小部分是上级计量部门的能力（标准的性能R标）；而大部分是被检仪器的性能（被检仪器的σ平和分辨力）。


按照史老的推理，“现行不确定度论的校准不确定度U95，其包含的内容与Rβ包含的内容相同，就是Rβ，这里记为Uβ，是确定系统误差时的误差范围。”，这个可推导比较容易理解。

我的疑问是：JJF1059.1-2012中附录A.3.5例子中说校准值、修正值、示值误差有相同的测量不确定度，修正值、示值误差有相同的测量不确定度这个好理解。关于这个“校准值”，如果不考虑修正的话，不就是标准器的示值么？如果是的话，那就相当说标准器示值与示值误差、修正值有相同的测量不确定度？我总理解不了，望史老能解疑。谢谢！！
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njlyx 发表于 2016-12-13 12:05
针对顶楼的问题——

在您的“基础关系”【误差元：测得值减真值

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       先生的说法，有些咬文嚼字，其实与通常的操作、算法，并无原则的区别，结果是一样的。实际工作者以及应用理论，讲究实效、可操作性；没差别，就不多说。
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       有计量标准，就可以测定被检仪器A的误差范围R。
       正文的叙述如下，先生认为哪里不妥？
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4.1 检定的操作与计算
       检定的具体操作是用测量仪器测量计量标准。因已知标准的量值，由此来求得测量仪器的测得值与真值的差，即误差。测量仪器性能的表征量是误差范围，因此必须求误差元的绝对值的最大可能值。求最大可能值的严格方法是统计方法，通常的检定工作可采用简化法，但不能忘记找最大差值这个要点。

       A 统计方法找误差元绝对值的最大值
       设标准的真值为Z，标称值为B，仪器示值为M_i，测量N次。
       1）求平均值M_平。
       2）按贝塞尔公式求单值的σ。
       3）求平均值的σ_平
                  σ_平= σ /√N
       4）求测量点的系统误差
                  β = M_平－B                                                                   （4.1）                             
       5）取平均值的随机误差范围是3σ_平
       6）单值随机误差范围是3σ
       7）被检测量仪器的误差范围由系统误差范围β、确定系统误差时的测量误差范围3σ平与示值的单值随机误差范围3σ合成。因系以标准的标称值为参考得出，称其为误差元计量值，记为
                r_仪/计 = β ± 3σ_平± 3σ                                                     （4.2）
       三项中仅有一项为系统误差，合成取“方和根”，误差范围为
                R_仪/计 =√[ β²+(3σ_平)²+(3σ)²]                                        （4.3）
       R_仪/计习惯上记为|Δ|_max。
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       B 简化操作
       在被检仪器量程上，选有代表性的以及可能误差较大的测量点数个，每点测量10次，求各点的误差元（M-B）绝对值的最大值，得R仪/计。
                R_仪/计 = │M_i - B│_max                              
                           = |Δ|_max                                                                 (4.4)
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       文中的“R_仪/计 =√[ β²+(3σ_平)²+(3σ)²] ”（4.3）就是计量时，通过实际测量得到的仪器的误差范围的测得值。仪器的误差范围的测量结果 R_仪/计是以标准的标称值为参考的。
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       以标准的真值为参考的测量仪器的误差元是
                r_仪=± R_仪/计 ± R_标
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       测量仪器的误差范围是r_仪的绝对值的最大可能值，两项（以系统误差为主的两项取绝对和）合成的结果是
                R_仪= R_仪/计 + R_标                                                               （1）
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       合格性判别，用的就是用（1）式计算的仪器的误差范围。
       不要奇怪这里用“绝对值合成”。一则，这是误差合成新理论的结果，顺理成章；而且JJF1094的合格性判别式，也是“+”号。（原式移到另一侧，变成“-”号。）

史锦顺 发表于 2016-12-13 18:54
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       先生的说法，有些咬文嚼字，其实与通常的操作、算法，并无原则的区别，结果是一样的。实际工作者 ...

看来先生的R也是要基于"样本统计"所获"均值"与"标准偏差"的"估计值"而得。

只不过，常人是将这两个"估计值"分别"合成"，前者就是"代数和"方式"合成"，后者的"合成"有些"复杂"，需要考虑"相关性"问题。   

您老人家的"创新"就是将这两个"估计值"捏箍成一个R后再"合成"，"合成"方法则依您"导"出来的几个"简单"规则？

对于您再引过来的"检定"推导过程----

首先，您这是表述的一个"单点检定"的情况，只能得到"被检定测量仪器(系统、或方案)"在该"检定点"的"测量误差"情况，与通常所说的那个"测量误差"不是一回事，尤其是其中的所谓"系统(测量)误差"成份！若要使您的"推导"结论有说服力，应该将这"检定"考虑的"全面"点---应大致覆盖"被检定测量仪器(系统、或方案)"的"工作范围"【 这其实应该是"校准(标定)"的"要求"。"检定"作为一种强制性的"核查"，本来是不要求"全面"的，只要符合"规程"即可，并不负责给出"被检定测量仪器"的"测量误差范围"。 但您老人家只青睐"检定"，要求它给出"被检定仪器"的"测量误差范围"，便须要求"全面"了！】

后面的问题等您的表述有所调整后再"掰扯"吧。

何必 发表于 2016-12-13 17:07
（五）测定系统误差时的误差范围
5.1 测定系统误差时的操作
       测定系统误差的方法是用被校仪器测量计 ...

          看了先生帖中的疑问，我又查了一遍《JJF1059.1》,其中的修正值是标准器的，不是通常我们常见的校准给出的被校仪器的修正值。但这一段，我也弄不懂。
          我是反对不确定度论的，我认为：不确定度的一套评定方法，包括计算公式，都是不对的。所以另起炉灶，进行误差分析。因此，对不起，对于贯彻不确定度论的文件，我解释不了。
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njlyx 发表于 2016-12-13 11:32
【在基础测量中，测量仪器是手段。仪器的随机因素引入的测得值的随机误差，可以通过多次测量的办法来缩小 ...

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(一)史锦顺 原帖

1 单值的σ与平均值的σ平
       量值有常量与统计变量之分，测量就有基础测量与统计测量之分。对常量的测量，是基础测量，对统计变量的测量，是统计测量。
       在基础测量中，测量仪器是手段。仪器的随机因素引入的测得值的随机误差，可以通过多次测量的办法来缩小。
       基础测量中，测得值是M平，平均值的标准随机误差是σ平，随机误差范围是3σ平。
       在统计测量中，仪器的误差可略，测得值的变化，体现的是被测量的统计特性。被测量的分散性要用单值的σ来表征。
       统计测量中，量值的表征量是M平，标准偏差是σ，偏差范围是3σ。
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（二）njlyx 质疑帖

【在基础测量中，测量仪器是手段。仪器的随机因素引入的测得值的随机误差，可以通过多次测量的办法来缩小。
       基础测量中，测得值是M平，平均值的标准随机误差是σ平，随机误差范围是3σ平。】

在您的“基础测量”中，是否还存在所谓的“系统误差”呢？

（三）史锦顺 回答
       先生的问题，问得怪。老史原帖是说明两个σ之不同，怎么扯起“系统误差”来？基础测量（常量测量）当然有系统误差；老史的一贯观点是重视系统误差，这点先生是知道的。但在这一段中，是没有必要讲系统误差的。

       以先生的资历与才智，应该提出若干水平高的议题。
       都成说我的“交叉系数法”是败笔，那只能由他去说，我有什么办法，只能一笑了之。他既瞧不起我，我也不必认真对待他，因为他并没有论述为什么是“败笔”的理由。
       你则不同。2016年，我能取得“交叉系数决定合成法”、“不确定度理论的统计方式错位”这两项成果，是和你有关的。当然，还有崔伟群先生。“系统误差的相关系数绝对值为1”、“单台测量与多台仪器同时测量一个量”的区分，我是从二位那里得知的；正是这两点，成为我提出两项理论的基础。我的两项成果，得不到二位的承认与支持，感到很遗憾。我不尽长叹：本有共同思路的二位先生都不能理解，我到那里去寻找知音呀！
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       老史是谨慎的，但又是很自信的。自认为：“交叉系数决定合成法” 是有重要理论意义与实践意义的。概念明确、推导严格、应用简单。而对变量常量一起统计的办法，是统计理论的新发展。
       “统计实验方式必须与统计实践方式一致”，是老史提出的一条新原则。其现实意义是由此可以断定“不确定度理论犯了统计方式错位”的严重错误。对通常的测量、计量、检验，都是时域统计。因此，B类评定把以系统误差为主的仪器的误差范围，除以根号3当成随机性的标准不确定度，是错误的。B类不确定度不成立，合成不确定度、扩展不确定度就都不成立。因而整个不确定度体系是无理、无据、无根的。
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       先生不赞成我的观点，没关系。有不同意见是正常的。只有争论，才能促进发展。但是我们不能回避矛盾。要抓住关键性问题，展开辩论。这个任务是重要的、严肃的。一时不能达成一致，可以挂起来。但道理要讲明白。
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       我们要担起责任！
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单值的σ与平均值的σ平的选择，我认为要看“测量结果”是什么，因为U为“测量结果的不确定度”。

在正常的校准报告中的不确定度评定中，校准报告中给出的测量结果为单台仪器重复性测试的平均值，这里的测量结果就是均值，那么评定不确定度时自然要使用平均值的σ平。即使用平均值的σ平的前提是：采用该n次测量结果的平均值作为测量结果的最佳估计值。，若在规范化的常规测量中采用此式来计算标准不确定度，这在原则上是允许的，但必须确保今后在同类测量中所给的测量结果必须是n次测量的评价值。
假设不将这个均值做为测量结果，那么明显不能使用平均值的σ平，这在规程中也有介绍的。即当评定不确定度是重复性测试的次数n和实际测试结果的测试m不同时，是需要除以根号m，而不是n的。而当m=1，那么就是单值σ。

而在台域统计时，比如评定某一型号的以前的不确定度，需选取n台仪器进行重复性测试，并评定不确定度U。如果这个不确定度需要附在每一个仪器测试报告中，而各仪器的测试报告的测试结果必然是单台的（不可能是n台仪器的平均值），那么此时也应该使用单值σ。

史锦顺 发表于 2016-12-14 11:12
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(一)史锦顺 原帖

这一问是不在点上。向您及坛友们道歉！

对于【你则不同。2016年，我能取得“交叉系数决定合成法”、“不确定度理论的统计方式错位”这两项成果，是和你有关的。】，若是真的，也要就此向您老人家道歉！....以本人的当前认识，您的这两项“成果”中：
        前者好像“似是而非”？——“交叉系数决定合成法”的说法本身不算错，但“交叉系数”的具体取值决定于“相关性”，它就是“相关系数”，不能因人为“总结”出几种特殊情形的“规定”取值而抹杀其“物理本质”；
       后者则似乎是“欲加之罪”？——所谓的“不确定度理论”在什么地方用错了“统计方式”呢？    就是对那个【常量形式的“系统误差”分量】的“统计”上吗？ 对于一个“值未知”的“常量形式的“系统误差”分量”，您有“更科学”的“统计方式”获得它的“可能取值范围”吗？！....除了直接“测量”【所谓的“不确定度理论”难道在什么地方反对这么做了吗？】，恐怕也只能根据“以往相似的经验数据合理“估计”吧”？... 您与“对手”在【常量形式的“系统误差”分量】方面的根本分歧只是：“对手”们认为，若【常量形式的“系统误差”分量】的“值”已经获知，那它便是一个“孤独”的“已知量”了，无言“散布”与“范围”！而您不以为然。

到目前为止，“测量不确定度”与“测量误差”之间的“纠结”或是尚未完全解开的，有篇尚新的文章（摘要后图附）可为一证，加以探讨应该有益。各说各的“在理”吧，不必过多“遗憾”。

史锦顺 发表于 2016-12-14 11:12
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(一)史锦顺 原帖

您在帖子中写到：“都成说我的“交叉系数法”是败笔，那只能由他去说，我有什么办法，只能一笑了之。他既瞧不起我，我也不必认真对待他，因为他并没有论述为什么是“败笔”的理由。”
您这样说有失公平的，我瞧不起您了吗？还是您自己感觉的。关于“计量是统计测量”和 “交叉系数”是否可用，这两大败笔的理由在春节前我们论述了不少，您应该都很清楚，在春节刚过时又向您做了最后陈述，此后我便很少发帖。在12月2日的回帖中，开头就先向您问好，所持观点虽然不同，但是这种敬业的精神还是要尊重的。我没有瞧不起您，到是您说不必认真对待我，如果有哪些用词不妥，那我向您道歉。
2016.12.08您在回帖中又写到：“写过数本书的都成先生评价说：这是老史的“两大败笔”。看后，我一笑了之。果然有人不识货。是金子，总会发光的。”
这里能看出您对待不同意见的态度，难怪这么多人都给您纠正不过来，导致您越陷越深。不确定度评定经过了那么多年的发展，它就是一个要取代误差理论中关于随机误差和未定系统误差那部分内容的东西，可能在某些方面还不完善，但也没有您说的那么坏，您写了几百篇文章来抨击它，就算是1/10抨击的对，那它也够坏的！
坛子里哪些人的误差理论/不确定度水平配得上与您讨论？重量级人物中哪些人的观点与您一致？哪些人反对？建议您好好梳理一下，好好考虑一下！不要光一笑了之。如果实在还想不通，建议您发起关于“计量是统计测量”和 “交叉系数”是否可用两个大讨论。这很重要！！！

史锦顺 发表于 2016-12-12 18:06
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       测量的示值，由被测量与测量仪器共同决定。示值的变化量，既可能是被测量的变化，也可能是测量 ...

        第一，我依然不认可测量误差与被测量仪器无关的说法。尽管您提到“办法是：标准装置的分辨力要比被检仪器高10倍（如衡器计量中的小砝码，频率计量中的高分辨力频率综合器）。计量（检定或校准）时，细调标准的输出值，使被检仪器的示值误差的绝对值达到最大值。于是就可以表达出仪器的分辨力误差。”但是我们应该知道，我们的计量工作是按规程进行，如果规程中有这个“分辨力误差“项目（有些规程是含有类似项目，分辨力、死区等分的很细），当然我们是可以这么做，也就不用再额外考虑分辨力因素；但是有些规程没有这一项，我们在测量环节按规程执行也就没那么细，测量结果就无法体现被检定仪器的一些自身特性，这时就有必要在测量结果中考虑分辨力等因素了。
       第二，我不赞同”因为仪器误差的指标值，规定就是误差绝对值的最大可能值。“的说法。从各种检定规程可以看出，各个测量点的测量误差的计算大都由测量平均值得到，并不一定是各测量点的误差最大值，也未必包含分辨力因素，原因与上段相同。
       总的来说我要强调一点，计量工作是一项按预先制定好的规程开展的工作，测量方法不是我们可以临时更改的，同时也要兼顾成本问题，所以有些想法听起来很好，实现起来却很难，综合来说，还是按要求评定不确定度最经济合理。

285166790 发表于 2016-12-14 16:06
第一，我依然不认可测量误差与被测量仪器无关的说法。尽管您提到“办法是：标准装置的分辨力要比 ...

标准装置的分辨力要比被检仪器高10倍（如衡器计量中的小砝码，频率计量中的高分辨力频率综合器）。计量（检定或校准）时，细调标准的输出值，使被检仪器的示值误差的绝对值达到最大值。于是就可以表达出仪器的分辨力误差。

这是一种脱离实际的想当然的想法，对模拟式被检仪器，标准装置分辨力比被检高10倍大部分情况下根本不够用，对数字式被检仪器，要求标准装置分辨力高10倍，既无必要，也不可能，比如，3458A、8508A数字表分辨力是8位半，全世界都找不出符合要求的标准装置；5120A频率测量5MHz分辨力可以到15位，用什么来检定？

何必 发表于 2016-12-13 17:07
（五）测定系统误差时的误差范围
5.1 测定系统误差时的操作
       测定系统误差的方法是用被校仪器测量计 ...

JJF1059.1-2012中附录A.3.5例子中说校准值、修正值、示值误差有相同的测量不确定度，修正值、示值误差有相同的测量不确定度这个好理解。关于这个“校准值”，如果不考虑修正的话，不就是标准器的示值么？如果是的话，那就相当说标准器示值与示值误差、修正值有相同的测量不确定度？

校准值是标准器的示值不错，但这不是孤立的标准器的示值，这个标准器的示值是与被校准设备的示值或测量值相关的示值，所以称为被校准设备示值或测得值的校准值，校准值的变化会受被校准设备示值的稳定性和分辨力影响而变化，即校准值不确定度分量除标准器分量外还要包含被校准仪器的重复性或分辨力分量，与修正值和误差的不确定度分量是完全相同的，所以三者具有相同的不确定度，校准值不确定度属于被校准设备示值或测得值、不属于标准设备

csln 发表于 2016-12-14 17:45
JJF1059.1-2012中附录A.3.5例子中说校准值、修正值、示值误差有相同的测量不确定度，修正值、示值误差有 ...

“校准值的变化会受被校准设备示值的重复性和分辨力影响而变化，即校准值不确定度分量除标准器分量外还要包含被校准仪器的重复性或分辨力分量”

你说的这个我能理解。针对这个例子我的疑问就在于重复性用的是标准温度计读数的重复性而不是被校温度计读数重复性，而这两个重复性肯定是有差异的。

续39
例子中采用比对法校准被校温度计，这种方式需要同时读被校温度计和标准温度计的读数，这两组读数算出来的重复性肯定不一样，被校温度计和标准温度计的分辨力也不一样，为什么重复性用标准温度计的重复性而不用被校温度计的重复性？
我曾经做过类似的实验:用5720校准34401A，采用两种读数方式:1.一种是固定标准读被校仪器；2.另一种是固定被校读标准。这两种读数方式做出来的重复性第2要比第1方式要小。

例子中相当于用被校温度计和标准温度计同时测量同一个被测量（温度源），如果假定被测温度源足够稳定，自身的散布可忽略不计，以及人员的读数误差也忽略不计的话，那么被校温度计的重复性是由于其自身的随机效应导致的？标准温度计的重复性是其本身的随机效应导致，如果不考虑修正的话，直接用标准温度计的示值，那么其随机效应导致的重复性应该包含在MPEV中，不应该重计？也就是说这两个重复性是不一样的！

何必 发表于 2016-12-14 19:26
续39
例子中采用比对法校准被校温度计，这种方式需要同时读被校温度计和标准温度计的读数，这两组读数算出 ...

按JJF 1059.1例子校准条件，重复性测量时间内恒温槽温度波动一般不会引起被校温度计指示值变化，此时标准温度计示值变化计算出重复性至少反应了在这个变化下被校温度计分辨力及重复性的综合因素，若被校温度计指示值也有变化，可能就需要判断是被校温度计自身因素还是恒湿槽波动引起的，要结合被校温度计、标准温度计读数处理数据后确定被校重复性，应该不会是简单地计算两者重复性，专业所限，只能推测，热工专业人员理解得可能更专业

用了标准温度计修正值，不需要考虑其MPE了，这个级别校准中标准温度计的重复性应该是对校准结果不产生影响的

njlyx 发表于 2016-12-14 12:36
这一问是不在点上。向您及坛友们道歉！

对于【你则不同。2016年，我能取得“交叉系数决定合成法”、“不 ...

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       先生对两大主要议题的表态，我们一步一步慢慢论。我先就那篇文章（照片），谈点看法。
       文章的立意是好的，用实测来探讨“不确定度评定是否必要”。结论也是对的：“评定不必要”。用系统误差和随机误差，计算的是误差范围。仪器已经给出误差范围，就够用了。
       但我要问：这种事，值得研究吗？本来是一句话可以断言的事，饶了那么大个圈子，有必要吗？
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       要知道：测量仪器的性能指标，是对“工作条件”讲的。以温度为例，IEC与国标规定的工作温度范围如下：

                    Ⅰ类仪器：     10℃～30℃            计量仪器及高精密仪器
                    Ⅱ类仪器：      0℃～40℃             通用测量仪器
                    Ⅲ类仪器：    -10℃～50℃            野外工作仪器或特种仪器
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       例如铯原子频标HP5061A,说明书给出的工作温度范围是0℃～40℃，准确度指标是1×10^-11。性能指标是就工作条件而言的。就是说：在0℃～40℃的环境温度下，使用该铯原子钟，频率偏差范围，不超过1×10^-11.
       当前，不确定度评定的作法，是引用1×10^-11的条件下，再加上温度变化的影响。本来，厂家给出的指标，已经包括了使用条件的因素。你的使用温度条件，优于0℃～40℃的仪器指标的定义温度条件，你的作法不仅是多余的，而且是错误的（多算了）。
       温度条件如此，其他环境条件也一样。通用仪器的工作条件，一般应用是都满足的。况且，测量前，选用测量仪器时，要根据工作任务的需要，选择够格的仪器。指标够格，仪器的工作条件也必须符合应用的要求。
       正确选用、正确应用，仪器的性能指标值——误差范围，就可当作测得值的误差范围。或者说，仪器的不确定度就是测得值的不确定度。还评定什么？
       国家计量院的名家马凤鸣先生，在1995年的全国时频计量讲习班上说：“国际计量委员会搞了个不确定度，是那些专家们吃饱撑的！”。好老马，骂得好！时间过了二十多年，更加证明马氏眼光之锐敏！几位大学教师的论文，实际就说明一个问题：不确定度评定，没必要；归根到底是对系统误差与随机误差的分析，而这些分析的结果已经体现在仪器的性能指标中，不需要应用者再评定。
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国家计量院的名家马凤鸣先生，在1995年的全国时频计量讲习班上说：“国际计量委员会搞了个不确定度，是那些专家们吃饱撑的！”。好老马，骂得好！时间过了二十多年，更加证明马氏眼光之锐敏！

马先生真说过这样的话吗？那他何以又在自己编的书中用了那么大篇幅评定了不确定度，至少证明马先生早认为不确定度评定是必要的

史锦顺 发表于 2016-12-15 09:56
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       先生对两大主要议题的表态，我们一步一步慢慢论。我先就那篇文章（照片），谈点看法。
       文 ...

本人并不“赞同”那篇文章（照片）的“认识”！——那标题上“绿？”是本人阅后“注”。

本人“以为”：那篇文章（照片）的作者们其实并没有理清【当前“标规”认定的“测量不确定度”】与“测量误差”之间的关系！  还是两张皮在扯。

与所谓“精度理论”相对应的可能是“面世较晚”的所谓【测量仪器的“测量不确定度”】？   它或许与“被测量”无关？ 而只与“测量仪器（系统、方案）”的“测量误差”有关——所谓【测量仪器的“测量不确定度”】，应该就是【“测量仪器（系统、方案）”的“测量误差”的“可能范围(半宽值)”】。

而通常说的所谓【“测量结果”的“测量不确定度”】是与“被测量”的“可能散布”（具体涉及“被测量”的“定义不确定”、“被测量”的时空变异、.....）相关的！这些“东西”是不好与“测量仪器（系统、方案）”的“测量误差”生拉硬扯的！ 但那篇文章（照片）就这样扯了！

只有当“被测量”是“单一量值”的情形（例如您所说的“常量测量”）时，所谓【“测量结果”的“测量不确定度”】才好与“测量仪器（系统、方案）”的“测量误差”对号入座。  当前的大部分“测量不确定度”的“评估模版”好像都不是考虑这种情形的？

csln 发表于 2016-12-15 08:39
按JJF 1059.1例子校准条件，重复性测量时间内恒温槽温度波动一般不会引起被校温度计指示值变化，此时标 ...

       这个问题我也发现了，按照检定规程的操作步骤，应该是固定标准读被检温度计，重复性应该看被检温度计的。在类似情况下还有一种方法，，比如砝码的检定，标准和被检中间也有比较仪重复性的因素，常采用的方法是：先算出一组两者的差值，再求差值的重复性，这样就可以排除很大一部分辅助设备自身波动性的因素了，也是个好办法。

csln 发表于 2016-12-15 08:39
按JJF 1059.1例子校准条件，重复性测量时间内恒温槽温度波动一般不会引起被校温度计指示值变化，此时标 ...

按照一般常识，我想当然的认为作为标准器的标准温度计其稳定性一定比被校温度计的稳定性要好，要不然也不能做被校温度计的标准器。所以标准温度计的重复性应该比被校温度计的重复性要小。
不过我也不是搞温度专业的，等回去咨询一下搞温度专业的同事后再讨论！

史锦顺 发表于 2016-12-15 09:56
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       先生对两大主要议题的表态，我们一步一步慢慢论。我先就那篇文章（照片），谈点看法。
       文 ...

      为什么我们经常感觉不到不确定度评定的作用，那是因为我们大多使用的是国家编制的检定规程，其中对于各种标准器的选择等各种不确定因素，已经进行了严格限制，所以直接就可以用来判定合格性了，但即使这种情况下依然有评定的需要：有时标准器是由多台仪器组合而成的，那这个总指标谁来给出呢，厂家不会管这事吧？
       那如果没有国家检定规程和判别标准的时候又应该怎么处理呢？这种情况就要自行编制校准规范，客户的要求并不是统一的，为了使规范有尽量广的适用范围，我们不必把各项条件都事先限的那么死，但这时候个就需要计量机构通过对不确定度的评定，来反映它们测量可靠性的高低，使用户对测量结果可靠性有更进一步的认识，以便于它们对计量机构的选择和对自身仪器的判断，是十分必要的。

285166790 发表于 2016-12-15 13:09
这个问题我也发现了，按照检定规程的操作步骤，应该是固定标准读被检温度计，重复性应该看被检温 ...

您已经给出了答案，同时读，"先算出一组两者的差值，再求差值的重复性。”像这一类型的校准，既不能固定被校读标准，更不能固定标准读被校，而是同时读被校和标准，因为这类信号源很难调整到整数被校刻度点（我也不是干这个专业的，但基本道理是相同的，出具报告时恐怕还得给出整数刻度点的实际值或修正值），不像校准电压表，可以固定被校读标准，很容易。来源于标准温度计的不确定度，修正了是一种评法(用修正值的U，再考虑稳定性)，不修正又是一种评法（用MPEV）。

都成 发表于 2016-12-15 14:00
您已经给出了答案，同时读，"先算出一组两者的差值，再求差值的重复性。”像这一类型的校准，既不能固定 ...

谢谢您的支持，我也认为在这种情况下，用差值求标准不确定度A类评定比较合理。