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[体系] 光隙法

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zhuxiaoting 发表于 2017-2-8 14:05:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
各位前辈:

你们好!

       我想请问一下,如果利用光隙法测量平面的平面度,需要准备哪些器具、如何建立光隙以及使用方法。

请知道的前辈告知

万分感谢!
hblgs2004 发表于 2017-2-8 14:39:26 | 显示全部楼层
印象中早期的卡尺检定规程上有光隙法图示及说明,简单的估计平面度用刀口尺观察光隙艳色进行判断。
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pangxie526 发表于 2017-2-8 15:15:35 | 显示全部楼层
我也想知道
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qquck 发表于 2017-2-8 22:20:42 | 显示全部楼层
平晶加量快加刀口尺组成标准光隙。
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西瓜瓜瓜瓜 发表于 2017-2-9 15:57:20 | 显示全部楼层
刀口尺 平晶 都是检平面度的
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cdsjmcl 发表于 2017-2-9 17:02:03 | 显示全部楼层
            光隙法是传统的也是科学的、可行的检测方法。这方面的相关资料、书籍很多,不难查找。至于实际检测经验,还需在搞清楚测量原理的基础上有所积累。测量原理简单讲就是使用刀口形直尺的工作刃口模拟理想直线,利用贴合在平面平晶上的各个量块的尺寸差组成标准光隙,利用标准光隙与被测工件的实测光隙进行比较(比较测量法),以获得被测件的形状误差。
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