数显万分尺测量不确定度评定和千分尺检定规程问题探讨

       在几何量尺寸精密测量中，使用日本三丰数显万分尺（0～25）mm的企事业单位越来越多，主要用与自制止通规、三针以及各类尺寸公差要求高的产品尺寸进行测量，目前全国也没几家法定计量机构针对数显万分尺能出具检定证书，有部分机构出具的是校准证书。正因为如此也给大部分用数显万分尺企业的客户审核、体系审核带来诸多不便，根据目前JJG21-2008《千分尺检定规程》要求，结合本人以下几点建议供各位量友参考讨论：
1.千分尺检定规程范围这一条中虽然包含了分辨力0.0001mm  测量上限至500mm的数显外径千分尺，但是本人认为分辨力为0.0001mm的数显万分尺其检定的环境条件比数显千分尺更高，不能按照＜100mm数显千分尺环境要求的Δt=±3℃，否则在检定的过程中很容易因为环境温度的波动影响到检定结果的准确性，建议增加对检定数显万分尺环境温度的要求±0.5℃或±1℃，可以放到恒温实验室去做。
2.数显万分尺检定用标准器本人建议是否可以用三等量块进行检定，并且检定结果需引入量块偏差加以修正。
3.千分尺检定规程并没有说明数显万分尺示值最大允许误差是多少？，如果按照数显千分尺示值最大允许误差±2μm来判定的话显然是不合理的，那么数显万分尺最后0.1μm小数是无效的，但是在实际测量过程中我们确实要用到最后一位小数。（根据三丰提供的技术指标是±0.5μm）

附件的图片是本人结合本实验室的实际环境条件对数显万分尺校准结果进行了不确定度的评定（U=0.2μm   k=2），其中附件有一张图片是上海华东计量院提供的数显万分尺扩展不确定度U=0.5μm，k=2，如果按照三丰提供的技术指标±0.5μm来说，从理论角度出发这个扩展不确定度有点大，如果校准结果考虑了扩展不确定度，那么这把三丰的数显万分尺很显然技术指标有可能超出±0.5μm，同时也不符合U≤1/3MPEV要求（其中MPE参考的是三丰提供的±0.5μm技术指标）。

特此声明：有可能本人评定的不确定度也不是完全正确的，也并没有对上海华东计量院的技术能力产生任何的质疑，更不存在对上海华东计量院恶意诋毁的意图。因为JJG21-2008《千分尺检定规程》里面确实没有针对数显万分尺检定的技术指标和方法进行详细的说明，在这领域还处与空白状态，我相信其他各省、市计量院和第三方检测机构也碰到过类似的问题，发帖的主要目的供各位量友进行技术讨论、也作为对自己计量技术能力水平的一种提高。

再此也特别感谢   上海华东计量测试研究院  能给出这份校准证书和校准结果的扩展不确定度供各位量友进行参考。