平板规程附录例子平面度计算问题？

平板规程附录C中，表1和表2  c3值为-1.8；表7 c3值为-2.26;表8  c3值为-1.4这是为什么？

　　JJG117-2013的附录C中，注意测量仪器的分度值一定是高度，计量单位一定是μm，绝不是个别骂街砖家所说的角度单位弧度或度分秒，读得的的格数一定要乘以新的组合测量设备的分度值，不再是水平仪的分度值。
　　表C.1  c3值为-1.8μm（是根据被测截面a1e5得到的，原理是将截面上各受检点读数值通过累积统一到以起始点a1为测量基准的高度差后，将两端点通过计算（或旋转）至高度相等得到。
　　表C.2  c3值为-1.8μm，是按表C.1相同的方法计算截面e1a5各受检点高度，得到c3高度为+1.8μm后，因两个c3是同一个受检点，必须与-1.8μm相同，将整个e1a5截面的各受检点的高度向下平移3.6μm（加-3.6μm）即可得到。
　　表C.7 c3值为-2.6μm，是按表C.1相同的方法计算截面a3e3各受检点高度得到c3高度为-1.9μm后，因为受检点a3、e3的高度分别在表C.3和C.5得到-0.3μm和-1.0μm，用解析法或旋转法使a3、e3原有高度0计算或旋转得到。
　　表C.8  c3值为-1.4μm，是按表C.1相同的方法计算截面c1c5各受检点高度得到c3高度为-1.5μm后，因为受检点c1、c5的高度分别在表C.6和C.4得到+1.0μm和-0.8μm，用解析法或旋转法使c1、c5原有高度0计算或旋转得到。
　　受检点c3的高度在a3e3、c1c5二个截面中分别为-2.6μm、-1.4μm，与a1e5、e1a5交点的-1.8μm分别相差0.8μm和0.4μm，这个差值被称为“重复测量变动量”。根据JJG117的4.3条规定，重复测量变动量不得大于被检平板平面度允许限的1/6。本例被检平板为630mm×400mm的0级平板，允差为5.0μm，5.0μm/6=0.83μm，重复测量变动量满足要求，因此可以使用所有测得值进一步进行数据处理，否则就必须推倒重来，废除所有测得的数据重新进行检测。
　　在另一个主题帖我做了比较详细的讲解，虽然该主题帖受到了某闻名世界的骂人砖家严重干扰，仍然可以大致看明白。该骂人砖家曾经是我国知名平直度检测专家，也是平板检定旧版规程的主笔，只不过最近十年来堕落并坠入骂街砖家的深渊，你不必理睬此人肮脏的骂语，只看其含有技术内容的部分，然后与我说的内容进行比较。我不评价谁对谁错，但我相信通过比较，一定会收获颇丰。这个主题帖的链接地址是：http://www.gfjl.org/forum.php?mo ... &extra=page%3D1

          由楼主提出的问题可以看出，中秋之缘量友对对角线法评定平面度的相关规定还是不够清楚，所以某位“搅屎棍子”就钻空子趁虚而入，胡言乱语、瞎讲一气继续在论坛散布其一贯性的伪理论，忽悠、误导公众，此人实在是可恶至极！

         “JJG117-2013的附录C中，注意测量仪器的分度值一定是高度，计量单位一定是μm”，为了忽悠公众，学术流氓已经不讲人话了。大家都清楚，以节距法进行的平直度测量，使用的主标准器是小角度测量仪器（水平仪或自准直仪），则小角度测量仪器的分度值（或分辨力）肯定是平面角（倾角），而绝不会是什么“......高度，计量单位一定是μm”，否则小角度测量仪器岂不成了线值测量仪器？那规程给出的角度换算为线值的两个换算公式岂不成了多此一举？由此可见，所谓的什么“新的组合测量设备”，以及“水平仪也就不是水平仪了”的规氏歪理邪说，完全就是“帕金森”症患者的“痴人说梦”。呵呵，奉劝“学术流氓”还是遵从医嘱，该吃药了。

        表C.1  a1e5截面的c3点为-1.8μm，由于对角线法规定了该受检截面误差折线的两端点连线通过理想平面（评定基准），所以该受检截面误差折线的各点对两端点连线的偏差就是对理想平面的偏差（c3点-1.8既是如此）。什么“累积统一到.....测量基准的高度差”、“两端点通过计算（或旋转）至高度相等得到”的胡言乱语完全就是屁话，测量过程结束了，测量基准做为仪器读数时的参考线（或参考面）也就随之结束了（这里不存在什么参考点），数据处理（评定）过程与测量基准毫无关联，“统一测量基准”的胡言乱语完全就是“痴人说梦”，“两端点通过计算（或旋转）”的说辞更是胡说八道，受检 a1e5截面的两端点在理想平面上，所以这个两端点（δ0和δn）无需进行什么“计算（或旋转）”，对于a1e5截面肯定δ0＝δn＝0，有请“搅屎棍子”告知大家，在a1e5截面其“旋转”了什么？是“旋转”了a1e5截面的误差折线呢？还是“旋转”了a1e5截面的两端点连线呢？大家不会被其误导，反而是“搅屎棍子”东扯西绕的胡说八道将其自己“旋转”的晕头涨脑了吧！对于规氏伪理论胡言乱语的“以起始点a1为测量基准（仅一个）”，这显然与其多年来胡说八道的“后一点为前一点的测量基准”、“点2为点3的测量基准.....（前一点为后一点的测量基准）”、“四个角点为测量基准”、“对角线交点为测量基准”、“两端点连线为测量基准”、“测量基准是不断变化的”等这些奇谈怪论，完全证实了“学术流氓”的语无伦次、痴人痴语、自我掌掴的满脑子糨糊，不久的将来，“搅屎棍子”一定会持续不断的创造性发展臭气熏天的规氏伪理论，胡说八道出“规氏横竖嘴就是测量基准”的胡言乱语，敬请大家拭目以待！

        表C.2  e1a5截面的c3点为-1.8μm，这是该截面c3点对理想平面的偏差。 e1a5截面的c3点对两端点连线的偏差为+1.8μm，由于a1e5截面的c3点与e1a5截面的c3点为两条对角线的交点，且对角线法规定了该e1a5受检截面误差折线的两端点连线为平行于理想平面。所以规程给出了e1a5截面的δ0＝δn＝C3（a1e5）－C3（ e1a5），故：δ0＝δn＝-1.8－（+1.8）＝－3.6，将e1a5截面的各点对两端点连线的偏差加上这个平移量－3.6，就是e1a5截面的各点对理想平面的偏差，由上所述， e1a5截面的c3点＝（+1.8）+（－3.6）＝-1.8，这 e1a5截面的c3点为-1.8μm的来由也就清清楚楚了。

       表C.7 a3e3截面的c3点值为-2.6μm，这是该截面的该点对理想平面的偏差，a3e3截面的起、末点对理想平面的偏差分别为δ0＝－0.3μm、δn＝－1.0μm（δ0＝－0.3在a1a5截面的a3点查到，δn＝－1.0μm在e1e5截面的e3点查到），则该a3e3截面的旋转量（也称坐标转移量）就是规程中给出的计算公式Ci＝i/n（δn－δ0），故a3e3截面上各点对两端点连线的偏差加上δ0（平移量）再加上旋转量Ci，就是a3e3截面上各点对理想平面的偏差（δi，而非规程中8个表中错误给出的δn）。所以，由表C.7可以看出，该 a3e3截面的c3点对两端点连线的偏差为－1.9，则该 a3e3截面的c3点对理想平面的偏差＝（－1.9对两端点连线的偏差）＋（－0.3平移量）＋（－0.4旋转量）＝-2.6μm。由此，a3e3截面的c3点值为-2.6μm的来由也就清清楚楚了，另外大家也就清楚的看到，上述这些与莫须有的什么规氏“解析法”一分钱关系都不存有，动辄什么“解析法或旋转法”，实则就是学术流氓这个“小孙子”“穿开裆裤”的屁话！

        表C.7 a3e3截面的c3点值为-2.6μm的事情搞清楚了，由于同理，表C.8 c1c5截面的c3点值为-1.4μm的事情也就无需重复细谈了，相信楼主及大家会搞清楚的。

        两条对角线截面（a1e5截面与e1a5截面）与两条中线截面（ a3e3截面与c1c5截面），这其中C3点的数值不同，反应出的是测量误差的存在（仪器的示值误差、首尾衔接、方法的近似等诸多因素），由于规程已经明确给出了测量点重复测量变动量的要求，本人也就无需重复细讲了，大家只需根据JJG117-2013规程中4.3条给出的规定，自行判断处理即可。对于受检平面各点的平面度数值，大家可以看一下JJG117-2013规程中图C.2，就会看出，各个受检截面的C3点取值只取对角线截面的C3点 -1.8μm，其余中线截面的C3点-2.6μm或-1.4μm，除用来判断重复测量变动量外，也就被只作另一方面的参考判断，而在取值方面则被弃用了。

         对于老不正经胡言乱语的什么“严重干扰、主笔、堕落并坠入”等等攻击性、污蔑性的无事生非、节外生枝的屁话，根本没人会屑于搭理，毕竟正常人都不会理会“帕金森”患者的胡言乱语，对这样的老琉球（实则小流氓、坏孩子），就当作其是躺进棺材还要伸手也就是了。

　　只要是从事过直线度误差测量的，只要是搞过几何量计量的，没有人不知道直线度误差的计量单位一定是μm，而不是什么角度单位rad或度分秒，只有一贯只知道骂街的人才会认为直线度误差的单位是角度单位。因此，一个非常简单的道理：水平仪一旦与桥板组合为直线度误差的测量设备，水平仪就不再是水平仪，而是直线度误差测量仪的显示装置了，其分度值的计量单位也不再是角度单位mm/m，而是长度单位μm，大小不再是τ，而是L·τ了。
　　节距法测量直线度，每个受检点的高度都是以与其相邻的前一个受检点为测量基准读得的。即点1的高度读数相对于起始点0读得（以起始点0为测量基准读得），点2的高度以点1为测量基准读得，点3的高度以点2为测量基准读得，以此类推，点n的高度以点n-1为测量基准读得，这就是节距法测量过程中测量基准在不停地变化根本所在，也是国家标准GB/T11336和GB/T11337将直线度检测、平面的检测的方法分为直接测量法与间接测量法，并把节距法划入间接测量法的根本原因所在。这个原因我告诉骂街砖家有十年了，也许是点破了当时还名扬全国的知名平直度检测专家的低级错误，伤及了“知名专家”的颜面，招致了骂街砖家十年来连续不断的谩骂，截止2018年7月4日14:57 的本主题帖3楼仍然骂声不跌，并且此人公开在公众媒体上发誓还将谩骂继续下去，直至其生命终结。
　　满嘴恶臭的“搅屎棍子”一再追问：“告知大家，在a1e5截面其旋转了什么？”，那就请这位只会骂街的“砖家”认认真真地看看表C.1的地6列数据的来源，以及第5列数据0（-），0，+2，+6，+8是如何变成第7列 0，-2，-2，0，0 的吧，不旋转你变个戏法看看。这是不是正如其自己所骂的“实则就是学术流氓这个‘小孙子’‘穿开裆裤’的屁话！”？
　　3楼说：“表C.1  a1e5截面的c3点为-1.8μm，……该受检截面误差折线的各点对两端点连线的偏差就是对理想平面的偏差（c3点-1.8既是如此）。”，“表C.2  e1a5截面的c3点对两端点连线的偏差为+1.8μm”，“表C.7 a3e3截面的c3点值为-2.6μm，这是该截面的该点对理想平面的偏差”。请问何来“偏差”？同一个被检平板受检点c3只有一个点，同一个受检点c3有多少个“偏差”？

          “学术流氓、搅屎棍子”横嘴胡言“每个受检点的高度都是以与其相邻的前一个受检点为测量基准读得的。即点1的高度读数相对于起始点0读得（以起始点0为测量基准读得），点2的高度以点1为测量基准读得，点3的高度以点2为测量基准读得”； “学术流氓、搅屎棍子”竖嘴瞎讲：①、“后一点是前一点的测量基准”；②、“起始点是测量基准”；③、“两端点连线是测量基准”；④、“对角线起、末点是测量基准”；⑤、“两条对角线的交点是测量基准.......；这里就有请前后不分、点线混淆、语无伦次、颠三倒四的“搅屎棍子”给大家讲讲清楚，这横竖嘴没完没了的胡说八道，是不是横竖嘴雨季受潮所致？这受潮的横竖嘴在其已无几多时日的残年岁末里还会靠谱吗？所谓“测量基准是不断变化”的胡言乱语与“横”、“竖”嘴的不断变幻有何共性？是否可以用“搅屎棍子”独特的横竖嘴做测量基准呢？.........？

          “搅屎棍子”老糊涂了吧！现今竟然连“第5列数据0（-），0，+2，+6，+8是如何变成第7列 0，-2，-2，0，0 的”，都搞不懂了，人老眼花的老不正经看看清楚，这里的“第7列”是“第5列（Ai）”减去第六列（Bi），这不就是唯一且典型的两端点连线计算公式吗！连这个也搞不懂，还要到处胡言乱语的大粪浇屎，胡说八道是什么“旋转”，那就有请一无所知的“搅屎棍子”告知大家，其“旋转”了什么？两端点连线计算与莫须有的什么“旋转”存有一分钱的关系吗？总是嘴不由己的胡言乱语，施展其故弄玄虚的规氏妖术，不是学术流氓这个“小孙子”“穿开裆裤”的屁话，还能是什么？！

         “同一个受检点c3有多少个偏差”的疑问，就由“搅屎棍子”自问自答好了，“JJG117的4.3条规定，重复测量变动量不得大于被检平板平面度允许限的1/6”，这样的引用已经说明了“有多少个”，挨X打呼噜的“帕金森”何必装痴卖傻呢？！遵从医嘱，滚回精神中心去吧！

　　既然那位天天骂街的“搅屎棍子”知道“第7列是第5列（Ai）减去第六列（Bi）”得到的，难道说5楼这么著名的全国平直度检测“专家”就不明白第7列是第5列（Ai）以a1=0为支点，以单位旋转量-2旋转而得到的吗？不明白第六列（Bi）的数据就是各受检点的实际旋转量吗？这么简单的事实非要我点明吗？难道此人堕落到除了会骂人，对平直度检测真的就一窍不通了吗？

         大家看一下JJG117-2013规程给出的唯一两端点连线计算公式：
              
        上述两端点连线计算公式红框中就是规程数据处理的第5列（Ai），篮框中就是规程数据处理的第6列（Bi），其中红框Ai就是受检i点（任一点）对X轴的纵坐标距离（或称纵坐标投影），篮框Bi就是受检i点（任一点）的坐标转移量（按比例内插即可），这样[（红框Ai）－（篮框Bi）＝受检i点（任一点）对两端点连线的偏离量（也就是受检i点在两端点连线上的纵坐标投影）]。由上所述，大家可以清楚的看到，不管是受检截面的误差折线，还是做为评定基准的两端点连线根本不存在什么“以a1=0为支点，以单位旋转量-2旋转而得到”的事情，也就是根本不存在什么莫须有的“旋转”，只有老糊涂在那里吃饱了撑的“瞎转”罢了，这里的“a1=0”绝非什么“支点”，那是坐标原点。连坐标原点都不懂，哪个SB“一窍不通”不就昭然若揭了吗！