万能量具理论考核试题
一、填空题（共20分 每题2分）1．阿贝（Aabe）原则是指测量轴线 上，根据这一原则，判别外径千分尺是否符合？ 。2.千分尺的测量下限调整至正确后，微分筒锥面的端面与毫米刻线的相对位置离线不大于 或压线不大于 。3.杠杆千分尺分 级和 级。4.通用卡尺检定规程规定，检定室内湿度不超出RH。5.不论哪种量具，凡有平工作面的，均有平面度要求，那么平面度是指包容实际表面而且距离为最小的 之间的距离。6．深度千分尺是应用 传动原理将回转运动变为 的一种量具。7．深度千分尺基座测量面的平面度不超过 ，用 以技术光波干涉法检定。 8．测量内尺寸量爪量面的圆弧半径样板以 测量，只允许样板
。9．检定外径校对量规时，应对校对量规工作面上的五个点进行测量，两个测量面上 为校对量规的工作尺寸， 所测得的五个尺寸 中， 为两工作面的平行度。 10．测微头的示值误差的测量，测微头紧锁装置应在 状态测量，引起的 应不超过2μm，并且示值误差均在允许范围内。
万能量具理论考核试题2
二、选择题（共20分每题2分）1．在测长机上检定内径千分尺的组合尺寸L时，必须使用V型架和工作台支撑内径千分尺，其支撑位置应处于离内径千分尺测量端面的距离a为。（1）a=0.2113L
(2)a=0.2203L
(3)a=0.2232L2.用平面平晶检定平面度时，用干涉条纹的弯曲量及干涉条纹的个数来计算平面度，其干涉原理是 。（1）球面干涉 （2）等倾干涉 （3）等厚干涉3．对于使用中的千分尺的刻线宽度及宽度差 。（1）
在微分筒上任意抽检三条刻线（2）
在刻线盘上任意抽检三条刻线（3）
可以不检定4．微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离不超过 。（1）0．2μm
（2）0．3μm
（3）0．4μm5．内测千分尺 阿贝原则。（1）符合
（2）不符合 （3）在一定的条件下符合6．千分尺的两工作面，如果其中一个面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平面平晶检定时，所需平行平晶块数 。（1）四块
（2）一块 （3）二块7．为满足千分尺示值误差的检定，所用量块的准确度为 。（1）5等或2级 （2）4等或1级 （3）4等或1级和5等或2级 dddddaaaaaaadfsafsafas 答案了。。。。。。。。。。
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