如何解决大电流高电夺快恢复二极管的测试问题
在通常状态下，我们对快恢复二极管采用专用恢复时间测试仪，但是我发现在实际使用的过程中，和检定中，会发现国产仪器的恢复波形并不理想，反向脉冲幅度控制的也不好，使得经过检定后合格的仪器测试结果有时差异会很大，我们只能将仪器测试范围设在很小的值以内。遇到有特殊要求的器件，我们会采用，利用手头的信号源，加一些必要配件，示波器来实现，但对于硅堆方式制作的器件，就很难满足，纳秒级信号的测试，各位同仁请教，谁有这方面的经验，可以介绍一下吗？ 半导体管测试在各个计量机构都不是很重视，一般都是采用北京无线电厂的BJ系列为多，测试时间一般在5nS以上，在测试某些器件时，效果不佳。国外的惠美和泰克部分型号可满足要求，但是价格相当高昂，使用信号源配合示波器也是可行的，但是对仪器的响应时间和精度要求比较高。
个人意见，如果你们需要大量测试军品级的器件，只能申请购买更高等级的设备，就珠三角的企业来看，使用较多的还是BJ，QT2和惠美的设备。半导体管的测试原理还是比较简单的，关键还是测试仪器本身的品质决定了测试数据的可靠性。
回复 #2 arale7 的帖子
就我本人经验和对各型号仪器的了解，大电流高电压的快恢复二极管，100纳秒以下的管子其测试出的结果用示波器监测很不好，可能是测试仪器本身在设计上去除器件影响这方面做的不是很好。我本人也尝试过，但是就是用好的信号源也很难，解决一般问题还可，具体到一些要求在二十纳秒以下就很难做到了。 快恢复二极管反响恢复时间，我自己装过一个简单的 东西但感觉效果不错，用一对场效应管再加上一个肖特基管。方波驱动（下降沿要求陡，<5ns），最后能得到一个与恢复时间成正比的直流信号。
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