千分尺平行度的检定及故障分析和修理
千分尺平行度的检定及故障分析和修理 太需要了，最近一直磨不好千分尺了 论文说“测量上限大于150毫米的千分尺，用平行平晶、量块组合检定效率低、准确度不高，故应用专用检具”请问各位专家：为什么准确度不高？ 回复 3# 老是JJG21-2008的6.3.13条规定：“测量上限至100mm千分尺两测量面的平行度用4块厚度差1/4测微螺杆螺距的平行平晶检定。也可用量块检定，……测量上限大于100mm千分尺两测量面的平行度用图10钢球检具检定。”
可见论文作者提出测量上限大于150毫米的千分尺两测量面平行度不要用平行平晶、量块组合检定，而要用专用检具检定，检定规程的这一条就是他的根据。
我国平行平晶的规格有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四个系列，长度分别为15mm、40mm、65mm、90mm，平行度允差分别是0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm。
由此可见使用平行平晶检定测量上限大于100mm的千分尺平行度，必须使用两个系列以上的平行平晶进行组合。组合时，两个（或两个以上）平行平晶各自的平行度势必共同对千分尺平行度检测结果产生影响，这是其一。
第二，平行平晶直径小而长度长，重量相对较重，且平晶检定规程对其研合性并无要求，当两个（或两个以上）平行平晶研合时研合力很难保证，研合效果并不稳固。用研合并不稳固的平行平晶检定千分尺平行性，平行平晶研合面之间极易产生分离间隙，严重影响平行性检测结果。
所以，论文作者说用平行平晶组合检定千分尺两工作面平行性“效率低、准确度不高”是有道理的。 回复 4# 规矩湾锦苑
嗨，高人呐！ “测量上限大于150毫米的千分尺，用平行平晶、量块组合检定。”可行吗？可操作吗？准确度高吗？ 太需要了，最近一直磨不好千分尺了 i学习一下，谢谢 大于150，千分尺两个侧贴距离长，按照规程要求，其平行度的要求也在降低，如果在500以下，是可以用量块来检测的，超过500使用专用量具检测。 非常实用，有个问题请教一下，在用量块检定平行度时，所用量块尺寸小数部分相差0.125mm，整数部分是不是要相同，例如5.125.24 5.36 5.00。这样是不是更合理。 回复 10# xuxinhaoxue
个人认为，采用不同的整数值目的和卡尺检验的 41.281.5121.8选点类似的道理，一两个螺距内平行度好并不代表整个行程的也好，采用有效行程内均匀分布的更能体现整体存在的问题。量面平行度的实际使用需求应该是全行程内的，而不是某个部位的。 不过话又说回来，大测量范围的千分尺其实应该淘汰掉才对的，完全应该使用坐标测量机来进行测量。当然我国现实情况，那个无可奈何啊。
我们是搞量具生产的，这个问题其实很清楚，规程/标准制定希望达到的目的，与现实生产中量具实际使用的情况是有很大出入的。包括理论不确定度与实际不确定度之间的差异简直是太大了。真正的大测量范围千分尺使用者使用时，都会注意千分尺的摆放方式吗？不正确的把持千分尺/支撑千分尺，会导致千分尺弓形架完全，量面平行度会完全破坏。
检验过大于300mm测量范围的千分尺，都会有这样的经历：同样一个量块，要测量N次后你才能确定千分尺的误差——而实际上不同的人检得出的误差又是不完全一样的。但实际使用的时候，被测量往往不是整数而且还有可能是个未知数值，这样你就更加不可确认N次测量的结果里面哪个才是正确的，虽然用误差分析可以更高概率选出可靠的结果，不过效率与可信度的确太让人不放心。
所以现实中工人使用150mm的卡尺，检测目标的允许误差要至少大于0.05mm才能放心使用，而0-25mm的千分尺（特别是机械千分尺），目标允许误差要大于0.004mm才可信任千分尺的检测结果。
反观我国的小量具规程与标准，其实有很多不合理的地方，当然这十多年一直在不断修改，只是有些改得更好了，有些改得更差了。例如卡尺量面平面度的要求，以前老标准还要平晶检测光带，事实上用卡尺测量的不确定度来看，量面是否上光带完全没有必要，这个现在修改掉了，是对的。但是也有标准制定越来越放松的方面，这个就不说了，影响不好。 我下载完了，看不到，说是解压失败。 我们计量室连平面平晶都没有，无法检定学习，而且我们计量室外径千分尺这块使用基本都是拿来对内径百分表，很少用来直接测量物体。很想学习下，但又没这个条件。 学习了，各行都有高手啊 我目前见过最大的千分尺是3m的 规矩湾锦苑 发表于 2013-5-1 22:38
回复 3# 老是
JJG21-2008的6.3.13条规定：“测量上限至100mm千分尺两测量面的平行度用4块厚度差1/4测 ...
您说数显外径千分尺两测量面的平行度适宜用平行平晶检定么？平行平晶Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四个系列的平行度允差分别是0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm，外径千分尺测量面的平行度允许值对应的分别是2μm、2μm、3μm、3μm，没有问题。但数显外径千分尺测量面的平行度允许值对应的分别是1.5μm、1.5μm、2μm、2μm，还能满足测量要求么？还是用量块更适宜些？ 长度室 发表于 2015-1-19 09:32
您说数显外径千分尺两测量面的平行度适宜用平行平晶检定么？平行平晶Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四个系列的平行度允差 ...
国家尚无平行度量值溯源系统或检定系统，形位误差中只有平面度计量器具检定系统，参照这个检定系统图可以看出，上下级的量传允差比例要求基本上为2：1，现在1.5μm、1.5μm、2μm、2μm分别与0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm的比均≥2：1，这种检测方法应该是满足测量要求的。当然，你说用量块检也是可以的，虽然量块的平行度允差会比平行平晶更小，但这种检定方法的平行度误差需要在千分尺上读出，千分尺的分辨力引入的不确定度分量也需要合成进去，合成后的不确定度也还是与平行平晶检测方法差不多。 规矩湾锦苑 发表于 2015-1-19 11:55
国家尚无平行度量值溯源系统或检定系统，形位误差中只有平面度计量器具检定系统，参照这个检定系统图 ...
有道理，谢谢！ xuxinhaoxue 发表于 2013-6-14 18:17
非常实用，有个问题请教一下，在用量块检定平行度时，所用量块尺寸小数部分相差0.125mm，整数部分是不是要 ...
老师我看规程也是这么理解，您最后得到论证了吗？这样是对的吗？
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