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GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法

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淡如水 发表于 2008-6-28 22:45:50 | 显示全部楼层 |阅读模式
【 标准编号 】 GJB 128A-1997
【 标准名称 】 半导体分立器件试验方法
【 英文名称 】 Test methods for semicondctor discrete devices
【 发布单位 】 电子工业部
【 批准单位 】 国防科学技术工业委员会
【 发布日期 】 1997-05-23
【 实施日期 】 1997-12-01
【 开本页数 】 254P
【 替代标准 】 GJB 128-1986
【 起草单位 】 中国电子技术标准化研究所
【 起 草 人 】 王长福等

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